檢索結果：共6筆資料 檢索策略： "郭中豐".cadvisor (精準) and ckeyword.raw="瑕疵檢測"
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本研究應用數位影像處理的技術於偏光板(Polarizer)產品瑕疵檢測。首先利用線掃瞄(Line Scan)電荷耦合元件(Charged Couple Device, CCD)擷取瑕疵影像，將尺寸大…
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本研究應用影像處理技術及分類方法於液晶顯示器(liquid crystal display, LCD)偏光膜(polarizing film)的瑕疵檢測與分類。因偏光膜產業的競爭越來越激烈，然而目前…
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本研究針對互補式金屬氧化物半導體影像感測器(CMOS image sensor, CIS)微型多層非球面透鏡組開發一套光學檢測系統。因CIS微型多層非球面透鏡組之構造為多層非球面透鏡之組合，當光線透…
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本研究主要針對發光二極體(Light Emitting Diode, LED)晶粒微觀瑕疵進行辨識與分類，本研究LED晶粒檢測分為三個部分，其檢測順序為LED晶粒外形檢測、LED晶粒電極區檢測以及L…
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本研究主要針對影像感測元件封裝製程中之玻璃蓋片瑕疵進行檢測與分類。玻璃蓋片檢測分為兩個部分，分別為非光阻區檢測與光阻區檢測。非光阻區瑕疵有暗點、溶液殘留與刮傷，而光阻區有光阻殘缺與崩邊等瑕疵。 …
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本研究係發展一套發光二極體(light emitting diode, LED)自動光學檢測(automatic optical inspection, AOI)系統，應用機器視覺與倒傳遞類神經網路…